合金鋼元素含量化驗材質鑒定麗水第三方報告辦理
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金屬成分分析的簡介
X-射線熒光光譜
(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一種非破壞性的分析方法，可對固體樣品直接測定。在納米材料成分分析中具有較大的優點;X射線熒光光譜儀有兩種基本類型波長色散型和能量色散型;具有較好的定性分析能力，可以分析原子序數大于3的所有元素。本低強度低，分析靈敏度高，其檢測限達到10-5～10-9g/g(或g/cm3);可以測定幾個納米到幾十微米的薄膜厚度。

 

15號鋼元素含量檢測揭陽檢測公司